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二次离子质谱

二次离子质谱

二次离子质谱

二次离子质谱(secondary ion mass spectroscopy),是一种非常灵敏的表面成份精密分析仪器,它是通过高能量的一次离子束轰击样品表面,使样品表面的分析吸收能量而从表面发生溅射产生二次粒子,通过质量分析器收集、分析这些二次离子,就可以得到关于样品表面信息的图谱。

基本介绍

  • 中文名:二次离子质谱
  • 外文名:secondary ion mass spectroscopy
  • 别称:次级离子质谱、离子探针
  • 原理:用一次离子束轰击表面
原理
用一次离子束轰击表面,将样品表面的原子溅射出来成为带电的离子,然后飞行时间或者磁偏转质谱仪分析离子的荷/质比,便可知道表面的成份;
二次离子质谱
它是一种非常灵敏的表面成份分析手段,对某些元素可达到ppm量级;但由于各种元素的二次离子差额值相差非常大,作定量分析非常困难。
二次离子质谱仪,是最前沿的表面分析技术。二次离子质谱仪揭示了真正表面和近表面原子层的化学组成,其信息量也远远超过了简单的元素分析,可以用于鉴定有机成分的分子结构。二次离子质谱仪广泛套用于微电子技术、化学技术、纳米技术以及生命科学之中,它可以在数秒内对表面的局部区域进行扫描和分析,生成一个表面成分图。

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