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互换性与技术测量第2版
《互换性与技术测量第2版》是2009年由北京理工大学出版社出版的图书，作者是魏斯亮、李时骏。
基本介绍
- 书名：互换性与技术测量第2版
- 作者：魏斯亮 李时骏
- 出版社：北京理工大学出版社
- 出版时间：2009年08月
图书简介
ISBN：9787564012588 [十位:7564012587]
页数：245 重约：0.378KG
定价：￥30.00
内容提要
本书系统地介绍了互换性与技术测量的基础知识,包括互换性与标準化,极限与配合,形状和位置公差,表面粗糙度标準,技术测量基础知识,普通螺纹的公差与配合等内容。
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