Test属于逻辑运算指令

测试（两运算元作与运算,仅修改标誌位，不回送结果）。

Test对两个参数(目标，源)执行AND逻辑操作，并根据结果设定标誌暂存器，结果本身不会保存。

TEST AX,BX 与 AND AX,BX 命令有相同效果，只是Test指令不改变AX和BX的内容，而AND指令会把结果保存到AX中。

语法：TEST r/m,r/m/data

影响标誌：C,O,P,Z,S(其中C与O两个标誌会被设为0)

Intel的技术手册上是这幺写的:

TEMP ←SRC1 AND SRC2;
SF ←MSB(TEMP);

IF TEMP = 0
THEN ZF ←1;
ELSE ZF ←0;
FI:

PF ←BitwiseXNOR(TEMP[0:7]);
CF ←0;
OF ←0;
(* AF is undefined *)

翻译过来就是:
将两个运算元进行按位AND,设结果是TEMP
SF = 将结果的最高位赋给SF标誌位，例如结果最高位是1，SF就是1

看TEMP是不是0
如果TEMP是0，ZF位置1
如果TEMP不是0，ZF位置0

PF = 将TEMP的低8位，从第0位开始，逐位取同或。也就是第0位与第1位的同或结果，去和第2位同或，结果再去和第3位同或....直到和第7位同或。
CF位置0
OF位置0
AF位是未定的，鬼知道是什幺

下面我们来看看这幺做是否合理：
SF位是符号位。对于有符号的数据，最高位正好是符号位，合理。
ZF位记录操作的结果是否是0， 合理。

PF位是奇偶校验位，如果结果低8位中1的个数是偶数，PF=1；否则PF=0.
一个8位数有2^8 = 256种可能，而且这个操作这幺複杂，一个一个地验算会死人的！！
幸好，高数老师教了我们归纳证明法！
证明：对于2，4，6，8这种偶数长度的数据，对其从低位到高位进行按位同或操作。如果数据的二进制表示中，有偶数个1，结果为1；反之结果为0
当长度=2的时候，有4种可能，00，01，10，11
对其进行同或运算，
00 = 1，有0个1，0也是偶数，合理。
01 = 0，有1个1，合理。
10 = 0，有1个1，合理。
11 = 1，有2个1，合理。
现在，将长度扩展为4，根据低2位的结果，有8种可能：
00 + 奇 = 00 + 0 = 000 = 01 = 0， 0 + 奇 = 奇数，合理。
00 + 偶 = 00 + 1 = 001 = 00 = 1， 0 + 偶 = 偶数，合理。
01 + 奇 = 01 + 0 = 010 = 00 = 1， 注意，此处 1 + 奇 = 偶数，合理。
01 + 偶 = 01 + 1 = 011 = 01 = 0， 1 + 偶 = 奇数，合理。
10 + 奇 = 10 + 0 = 100 = 11 = 1， 不解释。
10 + 偶 = 10 + 1 = 101 = 10 = 0， 不解释。
11 + 奇 = 11 + 0 = 110 = 10 = 0， 不解释。
11 + 偶 = 11 + 1 = 111 = 11 = 1, 不解释。
推广下去，证毕。

CF是进位标誌，对于test来讲，没啥子意义，置0，合理。
OF是溢出标誌，对于test命令来讲，没啥子意义，置0，合理。
AF未定义，自然合理。

1.Test用来测试一个位，例如暂存器：

test eax，100b；b后缀意为二进制

jnz ******；如果eax右数第三个位为1，jnz将会跳转

我是这样想的，jnz跳转的条件是ZF=0,ZF=0意味着ZF(零标誌)没被置位，即逻辑与结果为1。

2.Test的一个非常普遍的用法是用来测试一方暂存器是否为空：

test ecx, ecx

jz somewhere

如果ecx为零，设定ZF零标誌为1，jz跳转。