TLP: Transmission Line Pulse,传输线脉冲发生器,是一种积体电路静电放电防护技术的研究测试手段。与传统的HBM、MM、CDM、IEC模型不同,传输线脉冲发生器发出的是静电模拟方波,而传统模式发出的则是RC-LC模式的脉冲波形,与之相对应的,传统的HBM等波形更直接的模拟了现实中的某种静电形式,而TLP通过调节上升沿和脉冲宽度,间接地模拟了这些静电脉冲形式的损伤能力和不同上升沿CLAMP触发能力。由于使用了方波,TLP可以通过每次施加一个脉冲,获得一个I-V点的方式,一直施加不同幅值的电流直到测量泄露电流(Leakage)判定失效为止,即可获得完整的器件在ESD过程中的I-V曲线,而这种曲线,则可以用于积体电路ESD防护设计的仿真,达到积体电路ESD防护结构设计目的。同样由于使用了方波,还可以发现器件在ESD过程中的回响情况,包括开启过程、关断过程;由于一般器件开启时都有snapback问题,而这种问题对于超深亚微米器件是致命的,因此这种测试技术对用于解决CDM模型的ESD防护结构研究至关重要;同时,近期利用MOS特性设计的超快超低压开启CLAMP结构越来越重要,这种结构完全依赖MOS的栅极耦合电压,发现其关断特性,获得开启与关闭的良好平衡点,此测试技术的意义也非常重要。正是因为该设备的重要性,ESD/EOS会议ESD研究论文中,使用到该设备的论文达到了近80%。
国际上,早在1985年Maloney等人就提出了这种ESD模拟方法,并得到了广泛的套用。相对原型机的提出,产品机型的出现相对较晚,其中Barth公司的Jon E. Barth和Oryx公司的Evan Grund在这个领域做了比较出色的工作,并为社会提供了达到工业化水平的TLP设备。台湾交通大学的柯明道教授是亚太区TLP研究的先驱之一,并将其研究成果做了充分的公布,国内西安电子科技大学(目前在信息产业部电子第五研究所)的罗宏伟最早引入了TLP测试技术概念,中国科学院微电子研究所的曾传滨开发了国内首套TLP设备,并可为社会提供满足各种ESD模型需求的TLP仿真技术。