随着製造业的迅速发展，对产品质量检验的要求越来越高，需要对越来越多的关键、複杂零部件甚至产品内部缺陷进行严格探伤和内部结构尺寸精确测量。传统的无损检测方法如超音波检测、射线照相检测等测量方法已不能满足要求。于是，许多先进的无损检测技术被开发套用于这些领域，ICT（Industrial Computed Tomography--简称工业CT）技术便是其中的一种。

工业CT（ICT）就是计算机层析照相或称工业计算机断层扫描成象。虽然层析成象有关理论的有关数学理论早在1917 年由J.Radon 提出，但只是在计算机出现后并与放射学科结合后才成为一门新的成象技术。在工业方面特别是在无损检测（NDT）与无损评价（NDE）领域更加显示出其独特之处。因此，国际无损检测界把工业CT 称为最佳的无损检测手段。进入80 年代以来，国际上主要的工业化国家已把X 射线或γ射线的ICT 用于航天、航空、军事、冶金、机械、石油、电力、地质、考古等部门的NDT 和NDE，检测对象有飞弹、火箭发动机、军用密封组件、核废料、石油岩芯、计算机晶片、精密铸件与锻件、汽车轮胎、陶瓷及複合材料、海关毒品、考古化石等。我国90 年代也已逐步把ICT 技术用于工业无损检测领域。